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通用掃描遷移率粒徑譜儀

Fidas?U-SMPS

生產(chǎn)廠商 : Palas

Palas?SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀是先進(jìn)的納米顆粒測量系統(tǒng),可測量4nm到1200nm的氣溶膠粒徑分布,不僅能夠提供準(zhǔn)確可靠的粒徑分析和計數(shù)功能,而且高達(dá)256原始通道能夠?qū)崿F(xiàn)高粒徑分辨率。

產(chǎn)品特點:
  • 集成X射線電離功能的通用掃描遷移率粒度儀
  • 適用于8 ? 1200 nm的各種應(yīng)用
  • 使用單顆粒分析測量PM2.5/PM10
  • 適用于最高108 顆粒/ cm3 的濃度
  • 跟其他制造商的DMA 和納米顆粒計數(shù)器通用
  • 7 英寸觸摸屏和GUI 直觀操作,圖形顯示測量結(jié)果
產(chǎn)品概述:

Fidas?U-SMPS通用掃描遷移率粒徑譜儀

        Palas? 通用掃描遷移率粒徑譜儀(U-SMPS)可提供兩種版本。長分類柱(2050X / 2100X / 2200X 型號)可以確定8 至1200 nm的粒徑分布。該系列已經(jīng)集成了X射線源作為中和器,代替放射性中和器(例如使用Kr-85),優(yōu)點是在運輸過程中無需遵循針對放射源的要求。Palas?U-SMPS系統(tǒng)包括一個分類器,可根據(jù)氣溶膠顆粒的電遷移率選擇相應(yīng)的氣溶膠顆粒并傳送到出口。然后通過冷凝顆粒計數(shù)器(例如UF-CPC)對這些顆粒進(jìn)行計數(shù)。三種可用的UF-CPC型號可在各種濃度范圍內(nèi)實現(xiàn)最佳的單顆粒計數(shù)。

        Palas 使用了由Wiedensohler 教授(IfTLeipzig,德國)開發(fā)的演算算法,將測量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為U-SMPS的顆粒分布。U-SMPS使用圖形化用戶界面并在觸摸屏上進(jìn)行操作。一次粒子分布掃描可以在短短30秒之內(nèi)執(zhí)行,并且每十進(jìn)制多達(dá)64 個尺寸通道。在掃描期間,DEMC分類器中的電壓連續(xù)變化,從而導(dǎo)致每個尺寸通道的計數(shù)統(tǒng)計效率更高。(最高可達(dá)10 6 顆粒/cm3 )進(jìn)行監(jiān)測。

        Palas?U-SMPS 支持DMA,CPC和其他制造商的氣溶膠靜電計。 U-SMPS對顆粒物準(zhǔn)確的尺寸確定和可靠性能極其重要,尤其是對于校準(zhǔn)來說。所有組件都必須通過嚴(yán)格的質(zhì)量保證測試,并且必須內(nèi)部組裝。選配的干燥器(例如硅膠,Nafion)可以去除顆粒中的水分。雙極中和劑(XRC 049)用于確保氣溶膠電荷分布符合預(yù)定。 在DEMC的入口處需要一個撞擊器以去除大于分類器尺寸范圍的顆粒。